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SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-VE是一款、快速測(cè)量光譜橢偏儀,緊湊集成設(shè)計(jì),使用簡(jiǎn)便,可一鍵快速測(cè)量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息
SE-i光譜橢偏儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:光譜橢偏儀SE-Vi是一款集成式原位光譜橢偏儀,針對(duì)有機(jī)/無(wú)機(jī)鍍膜工藝研究的需要開發(fā)的原位薄膜在線監(jiān)測(cè)中的定制化開發(fā),快速實(shí)現(xiàn)光學(xué)薄膜原位表征分析
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:全自動(dòng)橢偏檢測(cè)機(jī)臺(tái)作為一種小型橢偏集成機(jī)臺(tái),通過(guò)整體高度模塊化,電、氣路集成技術(shù),實(shí)現(xiàn)不同橢偏測(cè)量模塊在線/離線式整體橢偏測(cè)量解決方案
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-PV光伏橢偏儀是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)S眯凸庾V橢偏儀,針對(duì)光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽(yáng)能電池表面減反膜測(cè)量定制開發(fā),快速實(shí)現(xiàn)薄膜物性表征分析
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:SE-Mapping光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測(cè)量光譜橢偏儀,采用行業(yè)前沿創(chuàng)新技術(shù),配置全自動(dòng)Mapping測(cè)量模塊,通過(guò)橢偏參數(shù)、透射/反射率等參數(shù)的測(cè)量,快速實(shí)現(xiàn)薄膜全基片膜厚以及光學(xué)參數(shù)自定義繪制化測(cè)量表征分析